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CMOS-TDI detector technology for reconnaissance application

Eckardt, Andreas und Reulke, Ralf und Jung, Melanie und Sengebusch, Karsten (2014) CMOS-TDI detector technology for reconnaissance application. In: Electro-Optical and Infrared Systems: Technology and Applications XI, 9249. SPIE Security & Defence 2014, 2014-09-22 - 2014-09-24, Amsterdam, Niederlande. doi: 10.1117/12.2066464.

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Kurzfassung

The Institute of Optical Sensor Systems (OS) at the Robotics and Mechatronics Center of the German Aerospace Center (DLR) has more than 30 years of experience with high-resolution imaging technology. This paper shows the institute’s scientific results of the leading-edge detector design CMOS in a TDI (Time Delay and Integration) architecture. This project includes the technological design of future high or multi-spectral resolution spaceborne instruments and the possibility of higher integration. DLR OS and the Fraunhofer Institute for Microelectronic Circuits and Systems (IMS) in Duisburg were driving the technology of new detectors and the FPA design for future projects, new manufacturing accuracy and on-chip processing capability in order to keep pace with the ambitious scientific and user requirements. In combination with the engineering research, the current generation of space borne sensor systems is focusing on VIS/NIR high spectral resolution to meet the requirements on earth and planetary observation systems. The combination of large-swath and high-spectral resolution with intelligent synchronization control, fast-readout ADC (analog digital converter) chains and new focal-plane concepts opens the door to new remote-sensing and smart deep-space instruments. The paper gives an overview of the detector development status and verification program at DLR, as well as of new control possibilities for CMOS-TDI detectors in synchronization control mode.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/91301/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:CMOS-TDI detector technology for reconnaissance application
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Eckardt, AndreasInstitut für Optische SensorsystemeNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Reulke, RalfHU BerlinNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Jung, MelanieFraunhofer IMSNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Sengebusch, KarstenEURECA Messtechnik GmbHNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2014
Erschienen in:Electro-Optical and Infrared Systems: Technology and Applications XI
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Band:9249
DOI:10.1117/12.2066464
Name der Reihe:Proc. SPIE
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Reconnaissance ; Sensors ; Equipment and services ; CMOS-TDI, VNIR, backside thinned CMOS, very thin CMOS TDI detector, MTF, SNR, new detector architecture
Veranstaltungstitel:SPIE Security & Defence 2014
Veranstaltungsort:Amsterdam, Niederlande
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:22 September 2014
Veranstaltungsende:24 September 2014
Veranstalter :SPIE
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Vorhaben hochauflösende Fernerkundungsverfahren (alt), R - Vorhaben Optische Sensorik - Theorie, Kalibration, Verifikation (alt)
Standort: Berlin-Adlershof
Institute & Einrichtungen:Institut für Optische Sensorsysteme
Hinterlegt von: Eckardt, Andreas
Hinterlegt am:27 Okt 2014 06:58
Letzte Änderung:24 Apr 2024 19:57

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