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3D Analysis of Trihedral Reflection Based on SAR Simulation Methods

Auer, Stefan und Bamler, Richard (2010) 3D Analysis of Trihedral Reflection Based on SAR Simulation Methods. In: 8th European Conference on Synthetic Aperture Radar (EUSAR) (ISSN: 0196-2892), Seiten 269-272. IEEEXplore. EUSAR 2010, 2010-06-07 - 2010-06-10, Aachen, Germany. ISBN 978-3-8007-3272-2. ISSN 0196-2892.

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Offizielle URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?tp=&arnumber=5758718

Kurzfassung

Simulation of artificial reflectivity maps supports the interpretation of high resolution SAR images in the azimuth-range plane. Nonetheless, simulation in 3D is mandatory in order to localize and identify salient point scatterers which, for instance, are analyzed for detecting deformation signals by Persistent Scatterer Interferometry. This paper presents first results of a 3D SAR simulation approach based on Ray Tracing methods. Within an urban scene, two different kinds of trihedrals detected and are analyzed for identifying their backscattering surfaces and the corresponding focused intensity contributions. Besides corner reflectors related to real building corners, the appearance of artificial corners inside buildings is confirmed by simulation methods.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/82303/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:3D Analysis of Trihedral Reflection Based on SAR Simulation Methods
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Auer, StefanStefan.Auer (at) bv.tum.deNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Bamler, RichardDLR,TUMNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2010
Erschienen in:8th European Conference on Synthetic Aperture Radar (EUSAR) (ISSN: 0196-2892)
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Ja
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Ja
Seitenbereich:Seiten 269-272
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
IEEE, Org.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:IEEEXplore
ISSN:0196-2892
ISBN:978-3-8007-3272-2
Status:veröffentlicht
Stichwörter:high resolution SAR, 3D simulation, ray tracing
Veranstaltungstitel:EUSAR 2010
Veranstaltungsort:Aachen, Germany
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:7 Juni 2010
Veranstaltungsende:10 Juni 2010
Veranstalter :IEEE Org.
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Vorhaben hochauflösende Fernerkundungsverfahren (alt)
Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Institut für Methodik der Fernerkundung
Hinterlegt von: Haschberger, Dr.-Ing. Peter
Hinterlegt am:08 Mai 2013 14:29
Letzte Änderung:24 Apr 2024 19:48

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