Automated debugging from pre-silicon to post-silicon

Dehbashi, Mehdi und Fey, Görschwin (2012) Automated debugging from pre-silicon to post-silicon. IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, Tallinn, Estonia. doi: 10.1109/DDECS.2012.6219082.

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Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2012.6219082

elib-URL des Eintrags:

https://elib.dlr.de/77031/

Dokumentart:

Konferenzbeitrag (Vortrag, Paper)

Titel:

Automated debugging from pre-silicon to post-silicon

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Dehbashi, Mehdi	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Fey, Görschwin	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

2012

Referierte Publikation:

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

Nein

In ISI Web of Science:

Nein

DOI:

10.1109/DDECS.2012.6219082

Seitenbereich:

Seiten 324-329

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

Debugging, digital circuit, hardware design

Veranstaltungstitel:

IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems

Veranstaltungsort:

Tallinn, Estonia

Veranstaltungsart:

internationale Konferenz

HGF - Forschungsbereich:

Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr

HGF - Programm:

Raumfahrt

HGF - Programmthema:

keine Zuordnung

DLR - Schwerpunkt:

Raumfahrt

DLR - Forschungsgebiet:

R - keine Zuordnung

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

R - keine Zuordnung

Standort:

Bremen

Institute & Einrichtungen:

Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme

Hinterlegt von:

Fey, Görschwin

Hinterlegt am:

13 Sep 2012 10:22

Letzte Änderung:

10 Jul 2023 12:38

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