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Advanced measurement techniques for industrial use

Kompenhans, Jürgen und Klein, Christian und Fey, Uwe und Stasicki, Boleslaw und Koop, Lars (2011) Advanced measurement techniques for industrial use. Seminar AVIC Aerodynamic Research Institute, 2011-10-11, Shenyang, China.

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elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/71902/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Advanced measurement techniques for industrial use
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Kompenhans, JürgenNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Klein, ChristianNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Fey, UweNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Stasicki, Boleslaw NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Koop, LarsNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2011
Referierte Publikation:Nein
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Pressure Sensitive Paint (PSP), Temperature Sensitive Paint (TSP), Microphone Array Technique (MAT), Video Stroboscope (QVT)
Veranstaltungstitel:Seminar AVIC Aerodynamic Research Institute
Veranstaltungsort:Shenyang, China
Veranstaltungsart:Andere
Veranstaltungsdatum:11 Oktober 2011
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:Starrflügler (alt)
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L AR - Starrflüglerforschung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Flugphysik (alt)
Standort: Göttingen
Institute & Einrichtungen:Institut für Aerodynamik und Strömungstechnik > Experimentelle Verfahren
Hinterlegt von: Micknaus, Ilka
Hinterlegt am:02 Dez 2011 09:17
Letzte Änderung:24 Apr 2024 19:37

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