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Advanced measurement techniques for industrial use

Kompenhans, Jürgen und Klein, Christian und Fey, Uwe und Stasicki, Boleslaw und Koop, Lars (2011) Advanced measurement techniques for industrial use. Seminar AVIC Aerodynamic Research Institute, 11. Oct. 2011, Shenyang, China.

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Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Advanced measurement techniques for industrial use
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Kompenhans, JürgenNICHT SPEZIFIZIERT
Klein, ChristianNICHT SPEZIFIZIERT
Fey, UweNICHT SPEZIFIZIERT
Stasicki, Boleslaw NICHT SPEZIFIZIERT
Koop, LarsNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2011
Referierte Publikation:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Pressure Sensitive Paint (PSP), Temperature Sensitive Paint (TSP), Microphone Array Technique (MAT), Video Stroboscope (QVT)
Veranstaltungstitel:Seminar AVIC Aerodynamic Research Institute
Veranstaltungsort:Shenyang, China
Veranstaltungsart:Andere
Veranstaltungsdatum:11. Oct. 2011
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:Starrflügler
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L AR - Starrflüglerforschung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Flugphysik
Standort: Göttingen
Institute & Einrichtungen:Institut für Aerodynamik und Strömungstechnik > Experimentelle Verfahren
Hinterlegt von: Ilka Micknaus
Hinterlegt am:02 Dez 2011 09:17
Letzte Änderung:21 Dez 2011 14:28

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