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ETCS – Teststrategien und Zulassung: Eine doppelte Herausforderung

Nowak , Sven und Rentsch, Ullrich (2009) ETCS – Teststrategien und Zulassung: Eine doppelte Herausforderung. Hanser Verlag. Safetronic 2009, 2009-11-03 - 2009-11-04, München, Deutschland.

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Kurzfassung

ETCS stellt neben nationalen Anforderungen auch Sicherheitsanforderungen, neben Sicherheits- auch Interoperabilitätsanforderungen. Wie diese gemeinsam getestet und nachgewiesen werden können, wird in diesem Beitrag dargestellt.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/63331/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:ETCS – Teststrategien und Zulassung: Eine doppelte Herausforderung
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Nowak , SvenTüv SüdNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Rentsch, UllrichBombardier TransportationNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:3 November 2009
Referierte Publikation:Nein
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Verlag:Hanser Verlag
Name der Reihe:Safetronic
Status:veröffentlicht
Stichwörter:ETCS, Zulassung, Test
Veranstaltungstitel:Safetronic 2009
Veranstaltungsort:München, Deutschland
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:3 November 2009
Veranstaltungsende:4 November 2009
Veranstalter :Tüv Süd
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Verkehr
HGF - Programmthema:V SM - Sicherung der Mobilität (alt)
DLR - Schwerpunkt:Verkehr
DLR - Forschungsgebiet:V SM - Sicherung der Mobilität
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):V - Technische und betriebliche Interoperbilität (alt)
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Verkehrssystemtechnik > Bahnsysteme
Hinterlegt von: Meyer zu Hörste, Dr. Michael
Hinterlegt am:23 Feb 2010 10:54
Letzte Änderung:24 Apr 2024 19:28

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