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Determination of dielectric material properties using passive MMW measurements for security applications

Dill, Stephan und Peichl, Markus und Süß, Helmut (2007) Determination of dielectric material properties using passive MMW measurements for security applications. In: Proceedings of SPIE 2007, 6548 (21), Seite 9. SPIE Defence and Security Symposium 2007, 2007-04-09 - 2007-04-13, Orlando, FL (USA). ISBN 9780819466709.

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Kurzfassung

Microwaves can be used to detect hidden objects behind optically opaque materials. Hence, the penetration capability through such materials is of fundamental importance. In order to characterize a material of interest in the microwave region, its permittivity should be known besides its physical structure. In many cases the permittivity is unknown, inaccurately known, or known for only specific frequencies. Also very often the range of values given in the literature can have a large variability for a specific situation. In this paper we describe a procedure to determine the permittivity from radiometric free space measurements of nearly arbitrary materials. A combined and advanced method of passive transmission and reflection measurements is outlined. The corresponding measurement assembly including the material sample and the necessary reference targets for almost environmentally independent measurements is illustrated. The advantage of this method is that large material samples like brick or wooden plates, and materials like textiles, which are hard to mount in a defined way in a waveguide, can be studied. An earlier presented method has been improved to obtain more accurate results. Some representative results for those MMW measurements are shown. The first attempts showed a satisfying performance.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/48844/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag, Paper)
Titel:Determination of dielectric material properties using passive MMW measurements for security applications
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Dill, StephanNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Peichl, MarkusNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Süß, HelmutNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:11 April 2007
Erschienen in:Proceedings of SPIE 2007
Referierte Publikation:Nein
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Band:6548
Seitenbereich:Seite 9
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
International Society for Optical Engineering (SPIE), NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Name der Reihe:Passive Millimeter-Wave Imaging Technology X
ISBN:9780819466709
Status:veröffentlicht
Stichwörter:permittivity, measurement, radiometer, millimeter-wave, three-layer model, transmission, reflection
Veranstaltungstitel:SPIE Defence and Security Symposium 2007
Veranstaltungsort:Orlando, FL (USA)
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsdatum:2007-04-09 - 2007-04-13
Veranstalter :SPIE
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Weltraum (alt)
HGF - Programmthema:W EO - Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Weltraum
DLR - Forschungsgebiet:W EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):W - Projekt sicherheitsrelevante Erdbeobachtung (alt)
Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Institut für Hochfrequenztechnik und Radarsysteme > Aufklärung und Sicherheit
Institut für Hochfrequenztechnik und Radarsysteme
Hinterlegt von: Dill, Stephan
Hinterlegt am:18 Jun 2007
Letzte Änderung:27 Apr 2009 13:51

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