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Influence of the adjacency effect on ground reflectance measurements

Richter, Rudolf und Bachmann, Martin und Dorigo, Wouter und Müller, Andreas (2006) Influence of the adjacency effect on ground reflectance measurements. IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters, 3 (4), Seiten 565-569. Institute IEEE, New York. ISSN 1545-598X

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Dokumentart:Zeitschriftenbeitrag
Titel:Influence of the adjacency effect on ground reflectance measurements
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID
Richter, RudolfNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Bachmann, MartinNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Dorigo, WouterNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Müller, AndreasNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:Oktober 2006
Erschienen in:IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters
Referierte Publikation:Ja
In Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Ja
Band:3
Seitenbereich:Seiten 565-569
Verlag:Institute IEEE, New York
ISSN:1545-598X
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Adjacency effect, atmospheric scattering, ground measurements, surface reflectance
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Weltraum (alt)
HGF - Programmthema:W EO - Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Weltraum
DLR - Forschungsgebiet:W EO - Erdbeobachtung
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Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Deutsches Fernerkundungsdatenzentrum > Umwelt und Sicherheit > Umwelt und Geoinformation
Hinterlegt von: Richter, Dr.-Ing. Rudolf
Hinterlegt am:16 Feb 2007
Letzte Änderung:27 Apr 2009 13:11

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