elib
DLR-Header
DLR-Logo -> http://www.dlr.de
DLR Portal Home | Imprint | Contact | Deutsch
Fontsize: [-] Text [+]

Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren

Ringel, G. and Kratz, F. and Schmitt, D. R. (1996) Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren. DLR-Forschungsbericht. 96-03, 25 S.

Full text not available from this repository.


Document Type:Monograph (DLR-Forschungsbericht)
Additional Information: LIDO-Berichtsjahr=1996,
Title:Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren
Authors:
AuthorsInstitution or Email of Authors
Ringel, G.UNSPECIFIED
Kratz, F.UNSPECIFIED
Schmitt, D. R.UNSPECIFIED
Date:1996
Number of Pages:25
Status:Published
Keywords:Meßtechnik, Profilometrie, Mikrorauheit, Superpolitur, Resist, Lack, Planisierung, BK7
HGF - Research field:Aeronautics, Space and Transport (old)
HGF - Program:Aeronautics
HGF - Program Themes:other
DLR - Research area:Aeronautics
DLR - Program:L FT - Flugführungstechnologien
DLR - Research theme (Project):L -- no assignement
Location: Braunschweig
Institutes and Institutions:Institute of Flight Control
Deposited By: elib DLR-Beauftragter
Deposited On:02 Apr 2006
Last Modified:27 Apr 2009 07:23

Repository Staff Only: item control page

Browse
Search
Help & Contact
Informationen
electronic library is running on EPrints 3.3.12
Copyright © 2008-2012 German Aerospace Center (DLR). All rights reserved.