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Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren
Ringel, G. and Kratz, F. and Schmitt, D. R. (1996) Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren. DLR-Forschungsbericht. 96-03, 25 S.
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| Document Type: | Monograph (DLR-Forschungsbericht) | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Additional Information: | LIDO-Berichtsjahr=1996, | ||||||||
| Title: | Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren | ||||||||
| Authors: |
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| Date: | 1996 | ||||||||
| Number of Pages: | 25 | ||||||||
| Status: | Published | ||||||||
| Keywords: | Meßtechnik, Profilometrie, Mikrorauheit, Superpolitur, Resist, Lack, Planisierung, BK7 | ||||||||
| HGF - Research field: | Aeronautics, Space and Transport | ||||||||
| HGF - Program: | Aeronautics | ||||||||
| HGF - Program Themes: | L - no assignement | ||||||||
| DLR - Research area: | Aeronautics | ||||||||
| DLR - Program: | L FT - Flugführungstechnologien | ||||||||
| DLR - Research theme (Project): | ["eprint_fieldopt_dlr_project_search_L000" not defined] | ||||||||
| Location: | Braunschweig | ||||||||
| Institutes and Institutions: | Institute of Flight Control | ||||||||
| Deposited By: | elib DLR-Beauftragter | ||||||||
| Deposited On: | 02 Apr 2006 | ||||||||
| Last Modified: | 27 Apr 2009 07:23 |
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