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Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren

Ringel, G. und Kratz, F. und Schmitt, D. R. (1996) Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren. DLR-Forschungsbericht. 96-03, 25 S.

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Dokumentart:Berichtsreihe (DLR-Forschungsbericht)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1996,
Titel:Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Ringel, G.NICHT SPEZIFIZIERT
Kratz, F.NICHT SPEZIFIZIERT
Schmitt, D. R.NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1996
Seitenanzahl:25
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Meßtechnik, Profilometrie, Mikrorauheit, Superpolitur, Resist, Lack, Planisierung, BK7
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L FT - Flugführungstechnologien
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L -- keine Zuordnung
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Flugführung
Hinterlegt von: elib DLR-Beauftragter
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 07:23

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