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Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren

Ringel, G. und Kratz, F. und Schmitt, D. R. (1996) Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren. DLR-Forschungsbericht. 96-03, 25 S.

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Dokumentart:Berichtsreihe (DLR-Forschungsbericht)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1996,
Titel:Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID
Ringel, G.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Kratz, F.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Schmitt, D. R.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1996
In Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Seitenanzahl:25
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Meßtechnik, Profilometrie, Mikrorauheit, Superpolitur, Resist, Lack, Planisierung, BK7
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L FT - Flugführungstechnologien
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - keine Zuordnung (alt)
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Flugführung
Hinterlegt von: DLR-Beauftragter, elib
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 07:23

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