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Simulation model for the scanning of surfaces by mechanical profiling systems.

Kratz, F. (1995) Simulation model for the scanning of surfaces by mechanical profiling systems. QM 95 "International Seminar on Quantitative Microscopy", Braunschweig, 04.-05.10.1995.

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elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/29258/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1995,
Titel:Simulation model for the scanning of surfaces by mechanical profiling systems.
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Kratz, F.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1995
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Status:veröffentlicht
Veranstaltungstitel:QM 95 "International Seminar on Quantitative Microscopy", Braunschweig, 04.-05.10.1995
HGF - Forschungsbereich:NICHT SPEZIFIZIERT
HGF - Programm:keine Zuordnung
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:NICHT SPEZIFIZIERT
DLR - Forschungsgebiet:keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - keine Zuordnung (alt)
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Flugführung
Hinterlegt von: DLR-Beauftragter, elib
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 07:21

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