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Roughness measurement on supersmooth surfaces with an optical Heterodyne Profiler

Schmitt, D.-R. und Ringel, G. und Kratz, F. (1993) Roughness measurement on supersmooth surfaces with an optical Heterodyne Profiler. In: Interferometry VI: Applications. SPIE 2004, San Diego, 11.-16.July 1993.

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Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1993,
Titel:Roughness measurement on supersmooth surfaces with an optical Heterodyne Profiler
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Schmitt, D.-R.NICHT SPEZIFIZIERT
Ringel, G.NICHT SPEZIFIZIERT
Kratz, F.NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1993
Erschienen in:Interferometry VI: Applications
Status:veröffentlicht
Veranstaltungstitel:SPIE 2004, San Diego, 11.-16.July 1993
Veranstalter :SPIE
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:keine Zuordnung
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L -- keine Zuordnung
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Flugführung
Hinterlegt von: elib DLR-Beauftragter
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 07:15

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