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Characterization of Supersmooth Surfaces with Roughnesses Below 0.1 mm.

Schmitt, D.-R. (1990) Characterization of Supersmooth Surfaces with Roughnesses Below 0.1 mm. In: Proceedings SPIE 1319(1990), Seiten 572-573. International Conference on Optics in Complex Systems, 5-10 August 1990, Garmisch-Partenkirchen..

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Kurzfassung

Supersmooth surfaces with a roughness of 0.05 nm have been developed and characterized by Nomarski microscopy and other optical and mechanical profiling systems. Photomicrographs of these surfaces are being discussed.

Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1990, pages=2,
Titel:Characterization of Supersmooth Surfaces with Roughnesses Below 0.1 mm.
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Schmitt, D.-R.NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1990
Erschienen in:Proceedings SPIE 1319(1990)
Seitenbereich:Seiten 572-573
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Surface, Roughness
Veranstaltungstitel:International Conference on Optics in Complex Systems, 5-10 August 1990, Garmisch-Partenkirchen.
HGF - Forschungsbereich:NICHT SPEZIFIZIERT
HGF - Programm:keine Zuordnung
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:NICHT SPEZIFIZIERT
DLR - Forschungsgebiet:keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L -- keine Zuordnung
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Flugführung
Hinterlegt von: elib DLR-Beauftragter
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 07:08

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