elib
DLR-Header
DLR-Logo -> http://www.dlr.de
DLR Portal Home | Impressum | Kontakt | English
Schriftgröße: [-] Text [+]

Simulation-Based Testing of Embedded Software in Space Applications

Montenegro, Sergio und Jähnichen, Stefan und Maibaum, Olaf (2006) Simulation-Based Testing of Embedded Software in Space Applications. In: Embedded Systems - Modelling, Technology and Applications, Seiten 73-82. Springer Netherland. Embedded Systems - Modelling, Technology and Applications, 2006-06-26 - 2006-06-27, Berlin. ISBN 978-1-4020-4932-3.

Dieses Archiv kann nicht den gesamten Text zur Verfügung stellen.

Offizielle URL: https://www.springerlink.com/content/n252617t5212h123/resource-secured/?target=fulltext.pdf

Kurzfassung

This paper deals with the software-in-the-loop test approach being developed by the consortium project SiLEST (DLR, TU-Berlin, IAV, FhG FIRST, Webdynamix). We present a layer structure of the control loop that allows components of the environment simulation to be used for hardware-in-the-loop and software-in-the-loop testing of embedded systems software. The approach is specifically designed to test software behaviour in disturbed operating conditions, such as in a harsh environment, for example. In space applications, intensive radiation can corrupt computations and stored data. In addition, electronic devices such as sensors age much faster than on earth so that changed sensor deviations must be expected. Much the same is true of numerous other embedded systems, e.g. in automotive applications. Here, too, the electronic components are exposed to extreme conditions (temperature) and are subject to ageing processes.

Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper)
Titel:Simulation-Based Testing of Embedded Software in Space Applications
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Montenegro, SergioFraunhofer FIRST
Jähnichen, StefanFraunhofer FIRST
Maibaum, OlafNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:17 Februar 2006
Erschienen in:Embedded Systems - Modelling, Technology and Applications
Seitenbereich:Seiten 73-82
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der Herausgeber
Hommel, NICHT SPEZIFIZIERT
Huanye, NICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:Springer Netherland
ISBN: 978-1-4020-4932-3
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Embedded System, Software Test, Software in the Loop, Hardware in the Loop
Veranstaltungstitel:Embedded Systems - Modelling, Technology and Applications
Veranstaltungsort:Berlin
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsdatum:2006-06-26 - 2006-06-27
Veranstalter :Technische Universität Berlin, Institut für Technische Informatik und Mikroelektronik in Kooperation mit der Shanghai Jiao Tong University
HGF - Forschungsbereich:keine Zuordnung
HGF - Programm:keine Zuordnung
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:keine Zuordnung
DLR - Forschungsgebiet:keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):W -- keine Zuordnung (alt)
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Simulations- und Softwaretechnik > Software-Qualitätssicherung und eingebettete Systeme
Hinterlegt von: Dr.rer.nat. Olaf Maibaum
Hinterlegt am:19 Feb 2007
Letzte Änderung:14 Jan 2010 20:58

Nur für Mitarbeiter des Archivs: Kontrollseite des Eintrags

Blättern
Suchen
Hilfe & Kontakt
Informationen
electronic library verwendet EPrints 3.3.12
Copyright © 2008-2013 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR). Alle Rechte vorbehalten.