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Bistatic Measurements and Analysis of Surface Scattering,

Ben Khadhra, Kais und Börner, Thomas und Hounam, David und Chandra, Madhu (2004) Bistatic Measurements and Analysis of Surface Scattering,. In: Kleinheubacher Tagung 2004. Kleinheubacher Tagung 2004, Miltenberg. (nicht veröffentlicht)

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Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Bistatic Measurements and Analysis of Surface Scattering,
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Ben Khadhra, KaisNICHT SPEZIFIZIERT
Börner, ThomasNICHT SPEZIFIZIERT
Hounam, DavidNICHT SPEZIFIZIERT
Chandra, MadhuNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:30 September 2004
Erschienen in:Kleinheubacher Tagung 2004
Status:nicht veröffentlicht
Stichwörter:Bistatic measurements, calibration, scattering analysis
Veranstaltungstitel:Kleinheubacher Tagung 2004
Veranstaltungsort:Miltenberg
Veranstaltungsart:nationale Konferenz
Veranstalter :U.R.S.I
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Weltraum (alt)
HGF - Programmthema:W - keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Weltraum
DLR - Forschungsgebiet:W - keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):W -- keine Zuordnung (alt)
Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Institut für Hochfrequenztechnik und Radarsysteme > Mikrowellen-Systeme
Hinterlegt von: Dr.-Ing. Kais Ben Khadhra
Hinterlegt am:03 Feb 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 04:59

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