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Large-spot COIL irradiation of Ge samples

Riede, W. und Gruenewald, K.M. (2002) Large-spot COIL irradiation of Ge samples. Boulder Damage Symposium, Boulder, Colorado, USA, 16-18 September 2002.

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Kurzfassung

The large-spot out-of-band irradiation of Ge wafers and subsequent evaluation is discussed in this paper. The wafers were irradiated with a high-power, cw COIL system, operating at a wavelength of 1.315 µm. Damaging fluence values on the order of 1 kJ/cm2 were found for irradiation periods of several seconds. Thermal simulations were consistent with experimental findings. The damage morphology showed melt and microcrystallites. For sample evaluation, a compact modulation transfer function (MTF) test bench has been developed.

Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=2003,
Titel:Large-spot COIL irradiation of Ge samples
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Riede, W.NICHT SPEZIFIZIERT
Gruenewald, K.M.NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2002
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Keywords: Large-spot irradiation, Ge wafers, COIL, MTF test bench
Veranstaltungstitel:Boulder Damage Symposium, Boulder, Colorado, USA, 16-18 September 2002
Veranstalter :SPIE
HGF - Forschungsbereich:Energie
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Energie
DLR - Forschungsgebiet:L - keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Laserforschung und -technologie
Standort: Stuttgart
Institute & Einrichtungen:Institut für Technische Physik
Hinterlegt von: Dr.rer.nat. Hans-Albert Eckel
Hinterlegt am:16 Sep 2005
Letzte Änderung:06 Jan 2010 14:48

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