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Coexistence of Thermal Noise and Squeezing in the Intensity Fluctuations of Small Laser Diodes

Hofmann, H. F. und Hess, O. (2000) Coexistence of Thermal Noise and Squeezing in the Intensity Fluctuations of Small Laser Diodes. Journal of the Optical Society of America, B (17), Seiten 1926-1933.

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Dokumentart:Zeitschriftenbeitrag
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=2001,
Titel:Coexistence of Thermal Noise and Squeezing in the Intensity Fluctuations of Small Laser Diodes
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Hofmann, H. F.NICHT SPEZIFIZIERT
Hess, O.NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2000
Erschienen in:Journal of the Optical Society of America
Referierte Publikation:Ja
In ISI Web of Science:Ja
Band:B
Seitenbereich:Seiten 1926-1933
Status:veröffentlicht
HGF - Forschungsbereich:Energie
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Energie
DLR - Forschungsgebiet:L - keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Laserforschung und -technologie
Standort: Stuttgart
Institute & Einrichtungen:Institut für Technische Physik
Hinterlegt von: elib DLR-Beauftragter
Hinterlegt am:16 Sep 2005
Letzte Änderung:06 Jan 2010 14:42

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