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Optical thickness estimation using MOS data

Pflug, B. und Krawczyk, H. und Gerasch, B. (2000) Optical thickness estimation using MOS data. Journal of Spacecraft Technology, 10 (2), Seiten 14-18.

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Kurzfassung

Present status of algorithms for atmospheric correction of ocean colour observations from space is demonstrated using data of imaging spectrometers MOS. Spectrometer MOS-A is used to identify high altitude transparent scattering layers, which can significantly reduce accuracy of atmospheric correction. Spectrometer MOS-B is used for estimation of aerosol optical thickness and Angstrom-exponent.

Dokumentart:Zeitschriftenbeitrag
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1999,
Titel:Optical thickness estimation using MOS data
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Pflug, B.NICHT SPEZIFIZIERT
Krawczyk, H.NICHT SPEZIFIZIERT
Gerasch, B.NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2000
Erschienen in:Journal of Spacecraft Technology
Referierte Publikation:Ja
In ISI Web of Science:Ja
Band:10
Seitenbereich:Seiten 14-18
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Imaging spectrometer MOS; Atmospheric correction; Aerosol optical tickness; Angstrom-exponent
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Weltraum (alt)
HGF - Programmthema:W EO - Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Weltraum
DLR - Forschungsgebiet:W EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):NICHT SPEZIFIZIERT
Standort: Berlin-Adlershof
Institute & Einrichtungen:Institut für Weltraumsensorik und Planetenerkundung
Hinterlegt von: elib DLR-Beauftragter
Hinterlegt am:16 Sep 2005
Letzte Änderung:14 Jan 2010 18:28

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