Optical thickness estimation using MOS data

Pflug, B. und Krawczyk, H. und Gerasch, B. (2000) Optical thickness estimation using MOS data. Journal of Spacecraft Technology, 10 (2), Seiten 14-18.

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Kurzfassung

Present status of algorithms for atmospheric correction of ocean colour observations from space is demonstrated using data of imaging spectrometers MOS. Spectrometer MOS-A is used to identify high altitude transparent scattering layers, which can significantly reduce accuracy of atmospheric correction. Spectrometer MOS-B is used for estimation of aerosol optical thickness and Angstrom-exponent.

elib-URL des Eintrags:

https://elib.dlr.de/17910/

Dokumentart:

Zeitschriftenbeitrag

Zusätzliche Informationen:

LIDO-Berichtsjahr=1999,

Titel:

Optical thickness estimation using MOS data

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Pflug, B.	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Krawczyk, H.	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Gerasch, B.	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

2000

Erschienen in:

Journal of Spacecraft Technology

Referierte Publikation:

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

Nein

In ISI Web of Science:

Band:

Seitenbereich:

Seiten 14-18

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

Imaging spectrometer MOS; Atmospheric correction; Aerosol optical tickness; Angstrom-exponent

HGF - Forschungsbereich:

Verkehr und Weltraum (alt)

HGF - Programm:

Weltraum (alt)

HGF - Programmthema:

W EO - Erdbeobachtung

DLR - Schwerpunkt:

Weltraum

DLR - Forschungsgebiet:

W EO - Erdbeobachtung

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

NICHT SPEZIFIZIERT

Standort:

Berlin-Adlershof

Institute & Einrichtungen:

Institut für Weltraumsensorik und Planetenerkundung

Hinterlegt von:

DLR-Beauftragter, elib

Hinterlegt am:

16 Sep 2005

Letzte Änderung:

14 Jan 2010 18:28

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